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談談影響膜厚計測量的因素

更新時間：2021-10-13   點擊次數(shù)：732次
　　今天小編給大家講講影響膜厚計測量的因素：
 
　　1.磁厚度測量受基體金屬磁變化的影響(在實際應用中，低碳鋼的磁變化可以認為很小)。為了避免熱處理和冷加工因素的影響，儀器應使用與測試件的基體金屬具有相同性能的標準件進行校準。待涂覆的試件也可用于校準。
 
　　2.基體金屬的電學性質(zhì)：基體金屬的電導率影響測量，而基體金屬的電導率與其材料成分和熱處理方法有關。用與測試件的基體金屬具有相同特性的標準件校準儀器。
 
　　3.基體金屬厚度：每種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。超過這個厚度，測量不受基體金屬厚度的影響。
 
　　4.邊緣效應：這種儀器對樣品表面形狀的突然變化很敏感。因此，在樣本的邊緣或內(nèi)角附近進行測量是不可靠的。
 
　　5.曲率：試樣的曲率對測量有影響。這種效應總是隨著曲率半徑的減小而明顯增大。因此，彎曲試樣表面的測量是不可靠的。
 
　　6.試樣變形：
 
　　7.表面粗糙度：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增加，影響增加。粗糙的表面會導致系統(tǒng)誤差和意外誤差。在每次測量期間，應增加不同位置的測量次數(shù)，以克服此類意外誤差。
 
　　8.磁場：各種周圍電氣設備產(chǎn)生的強磁場會嚴重干擾磁法測厚。
 
　　9.附著物質(zhì)
 
　　10.探頭測時壓力
 
　　11.膜厚計探頭方向：探頭的位置會影響測量。測量時，探頭應保持垂直于樣品表面。
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